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ICP-MS 激光剥蚀

ICP-MS 激光剥蚀

安捷伦激光剥蚀 ICP-MS (LA-ICP-MS) 可直接进行固体样品的表面分析。Agilent 7850 和 7900 单四极杆 ICP-MS 以及 8900 串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 系统灵敏度高、采集速率快,并且具有 10-11 个数量级的动态范围。通过 ICP-MS MassHunter 工作站软件与序列控制相结合,这些系统非常适合各种样品的激光剥蚀分析。

LA-ICP-MS 非常灵活,可针对包裹体或缺陷分析进行单点剥蚀,针对整体分析或成像进行线性或光栅采样,还能进行精确的深度剖面研究。激光剥蚀进样适用于地质学、考古学、法医学样品、杂质分析、地球化学领域的元素分布或分带研究、生物成像以及环境监测。

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