전자 기판
빠르고 정확하며 규제를 충족하는 전자 기판 내의 중금속 검출
중금속을 함유한 전자 기판의 적절한 처리를 관리하는 규제는 전 세계의 환경을 보호하는 데 매우 중요한 사안입니다. 제조업체들은 국제적인 법률 및 지침, 특히 Restriction of Hazardous Substances (RoHS) 및 End of Life Vehicles (ELV) 가이드라인을 충족하는 처리 및 재활용 솔루션을 마련해야 합니다.
애질런트의 ICP-MS 시스템(7900 ICP-MS 및 8800 ICP-QQQ)은 규제에서 요구하는 정밀하고 일관된 결과를 제공합니다. 애질런트의 정확하고 안정적이며 견고한 기기는 매우 복잡한 시료 내에서도 극미량 중금속을 검출해낼 수 있으며, 비용 효율적인 자동화 장비 및 업계 선도적인 반도체 ICP-MS 사용자를 위한 구조 지지를 통해 성능을 한층 더 강화했습니다.
중금속 분석에서 재현성이 높은 결과를 최고 수준의 감도로 제공함으로써, 귀하의 친환경적인 작업을 확보하는 동시에 규제 기관의 인증을 받을 수 있습니다.
Ultratrace Analysis of Solar (Photovoltaic) Grade Bulk Silicon by ICP-MS
- PDF/ FOUND IN: APPLICATION NOTES
- 날짜 : 20 Jan 2014
- 파일 크기 : 75.77 KB
Accurate Quantification of Cadmium, Chromium, Mercury and Lead in Plastics for RoHS Compliance using the Agilent 7500ce ICP-MS
- PDF/ FOUND IN: APPLICATION NOTES
- 날짜 : 23 Jan 2014
- 파일 크기 : 108.25 KB
- 응용 자료
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컴팩트 비주얼 디스플레이의 성능 측정
Agilent Cary 7000 UMS는 광학 디스플레이에 사용되는 차세대 재료의 광학적 특성 측정에서 유용한 도구임이 밝혀졌습니다. 시료의 특수 폴리머 코팅에 의해 가해지는 광학 회전은 직선 편광 입사광 및 반사광의 탈편광을 통해 정확하게 측정된 후 감지 및 처리되었습니다.
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- Korean
- 28 Feb 2023
- 503.55 KB
Performance of Compact Visual Displays — Measuring Angular Reflectance of Optically Active Materials Using the Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS)
Application note for Performance of compact visual displays — measuring angular reflectance of optically active materials using the Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spe
- 응용 자료
- English
- 10 May 2021
- 370.14 KB
Damage-Free Failure/Defect Analysis in Electronics and Semiconductor Industries Using Micro-ATR FTIR Imaging
Application note for Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
- 응용 자료
- English
- 21 Oct 2014
- 735.09 KB
Basic Performance of the Agilent 7700s ICP-MS for the Analysis of Semiconductor Samples
Basic Performance of the Agilent 7700s ICP-MS for the Analysis of Semiconductor Samples
- 응용 자료
- English
- 27 Jan 2014
- 773.59 KB
Monitoring Heavy Metals by Atomic Absorption Spectroscopy for Compliance with RoHS and WEEE Directives
Application note for monitoring heavy metals by atomic absorption spectroscopy for compliance with RoHS and WEEE Directives
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- English
- 27 Jan 2014
- 82.30 KB
Analysis of Electroceramics Using Laser Ablation ICP-MS
Application note for the analysis of electroceramics using laser ablation ICP-MS
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- English
- 13 Jan 2014
- 104.13 KB
FT-IR Microscopy and Imaging for Failure Analysis in Electronics Manufacturing
Detailing methods and practices of FT-IR microscopy and imaging for failure analysis in electronics manufacturing.
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- 26 Sep 2012
- 422.88 KB
- 입문서
- 기술 개요
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