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用于 ICP-OES 的 MSIS 和备件

用于 ICP-OES 的 MSIS 和备件

多模式进样系统 (MSIS) 提供了一种便捷途径,帮助您大幅提高基于传统雾化技术的元素测定灵敏度,同时可利用同一装置实现对环境敏感元素(包括 As、Se 和 Hg)的氢化物发生法测量,并且具有低至 µg/L 的检测限。

其采用基于薄膜氢化物技术的独特设计,性能优于传统雾化方法,同时提供三种可选模式:1) 传统雾化法 2) 氢化物发生法和 3) 同步雾化/氢化物发生法,无需进行转换,使用相同设置即可测定常规元素和氢化物元素。

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