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ICP-OES

Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy (ICP-OES)

了解您的实验室将保持高效并获得可靠的结果

安捷伦 ICP-OES 系统具有智能功能,可提供可靠的分析结果并减少实验室浪费的时间。得益于 ICP-OES 系统内置的传感器,分析人员将准确了解何时需要清洁并维护他们的 ICP-OES 或 ICP-AES。得益于发现干扰物质并提供备份结果的算法,实验室管理人员将确信其 ICP-OES 系统可提供准确的结果。

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我们正在使用 Agilent 5800 ICP-OES 来支持我们的原电池金属提取和锂离子电池回收项目。5800 ICP-OES 及其灵敏的水平观测可实现可靠的痕量杂质分析。垂直双向观测附件使我们能够对目标分析物(锂、镍、钴和锰)以及高盐浓度基质中的微量元素杂质统一准确地量化。电池金属的痕量杂质分析至关重要,因为这些杂质(例如铁和锌)会显著影响性能和锂离子电池的安全性。

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应用简报:了解 5800 ICP-OES smartICP 如何简化高纯度硫酸铜分析

查看本应用简报,了解 5800 ICP-OES 及其 smartICP 功能如何简化高纯度硫酸铜的复杂分析。探索 smartICP 功能如何成为成功和失败的关键。

ICP Expert v7.6 软件现已推出!

ICP Expert v7.6 增加了新功能,旨在帮助您充分利用安捷伦 ICP-OES 仪器。从维护日志(记录您上一次清洁炬管或更换泵管的时间)到 IntelliQuant Screening 向全新定量方法的无缝过渡。新版本 ICP Expert 功能更加完善,一起来了解新功能吧。

新锂离子电池信息页面

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