最新推出 ICP-MS 接口锥知识讲解
每台 ICP-MS 系统的前端（位于质谱仪高真空区域之外）都包括样品引入系统、两个接口锥和离子透镜。这些接口锥包括采样锥和截取锥，共同组成了样品引入系统常压环境与质谱仪高真空区域之间的过渡区。
接口锥可使等离子体中产生的带正电荷的离子进入质谱仪，对 ICP-MS 运行起着至关重要的作用。深入理解该接口区域的工作机制及接口锥的功能，对于评估 ICP-MS 的整体性能非常重要。有关接口锥的选型和维护指南，请参阅 ICP-MS 接口锥常见问题解答。
接口锥基本原理 — 接口锥是什么？
请访问常见问题解答页面，深入了解接口锥在 ICP-MS 中的重要作用，特别是 ICP-MS 采样锥和截取锥的功能及其关键特性，包括：
- 孔口尺寸和形状
- 锥尖面积
- 选择合适的接口锥锥尖和基座材质
您还可以了解与接口锥协同工作的离子透镜基座（又称截取锥基座）及提取 Omega 透镜组件。
掌握这些知识将帮助您选择最适合您应用需求的 ICP-MS 接口锥，从而实现：
- 出色的基质耐受性，提升长期稳定性
- 高信噪比，确保低浓度下的准确定量
- 高效散热，延长接口锥使用寿命
- 出色的耐化学腐蚀性，降低背景干扰并延长接口锥使用寿命
有哪些类型的接口锥可供选择？
ICP-MS 接口锥可按形状和材料分类。在不同的等离子条件下，孔口形状会影响离子采样和提取效率。不同的材料（包括锥尖材料、基座材料及是否有涂层）则决定了接口锥的化学兼容性和耐用性，确保它们能够耐受各种基质，包括酸、碱、有机溶剂和盐类。
了解不同系列的 ICP-MS 接口锥，找到最适合您应用需求的产品。可选类型包括：
- 镍尖锥
- 铂尖锥
- 镀镍采样锥
- 用于 x 透镜与 s 透镜的截取锥
我的应用应使用哪种接口锥？
选择合适的 ICP-MS 接口锥是尽可能提升系统性能、延长接口锥使用寿命并提高投资回报的关键。
这一部分的 ICP-MS 接口锥常见问题解答针对多种常见应用提供了相应的推荐方案，并列出了各种兼容的 ICP-MS 型号的安捷伦部件号。
针对以下样品类型，探索最适合您分析需求的推荐接口锥：
- 硝酸消解液
- 王水消解液
- 总溶解态固体 (TDS) 含量高的样品
- 含氢氟酸的样品
- 含硫酸或磷酸的样品
- 有机溶剂
- 半导体应用
截取锥的选择取决于仪器型号和所用的离子透镜版本。此外，离子透镜的基座材料应根据 ICP-MS 接口锥的锥尖材料进行选择。有关选择合适配置的详细指南，请参阅提供的兼容性表。
如何维护 ICP-MS 接口锥？
即使精心挑选了合适的 ICP-MS 接口锥，也需要定期进行维护，以去除样品分析过程中积聚的基质沉积物和污染物。建议的清洁频率因以下因素而异：
- 应用类型
- 样品基质
- 处理的样品数量
- 等离子体操作条件
维护频率取决于样品载量和基质复杂程度：
- 低通量实验室或所分析的样品基质较为干净的实验室，可能只需每隔几周维护一次。
- 所分析的样品基质较为复杂的高通量实验室可能需要每日清洁以保持理想性能。
ICP-MS 接口锥维护和清洁的详细流程及最佳实践，请参阅 ICP-MS 接口锥常见问题解答“接口锥维护”部分。
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