ICP-MS 截取锥，铂金配铜基座，适用于带 x 透镜的 7900/8900，部件号 G8400-67201
ICP-MS 截取锥
ICP-MS 截取锥是大气压氩等离子体和高真空四极杆 MS 之间接口区的组成部分。截取锥的尖端有一个小孔或开孔，用于将分析物离子传输到高真空 MS。安捷伦镍尖或铂尖截取锥具有适合您的安捷伦 ICP-MS 型号和配置的定制尖端几何形状。
对于半导体或高级材料等高要求应用，低背景的铂尖锥对于达到低检出限 (LODs) 至关重要。对于无需耐化学腐蚀性或低铂背景的应用而言，镍截取锥具有经济实用的性能。
通过严格控制安捷伦 ICP-MS 截取锥尖的运行温度来控制基质沉积，可实现理想的分析性能和信号稳定性。经过极严格质量控制检查的安捷伦截取锥可确保安捷伦 ICP-MS 的分析性能满足您的预期。
对于半导体或高级材料等高要求应用，低背景的铂尖锥对于达到低检出限 (LODs) 至关重要。对于无需耐化学腐蚀性或低铂背景的应用而言，镍截取锥具有经济实用的性能。
通过严格控制安捷伦 ICP-MS 截取锥尖的运行温度来控制基质沉积，可实现理想的分析性能和信号稳定性。经过极严格质量控制检查的安捷伦截取锥可确保安捷伦 ICP-MS 的分析性能满足您的预期。
产品详细信息
特性
- 安捷伦原装接口锥经过 100% 质量检验，能够在整个质量范围内提供优异的灵敏度
- 镍截取锥适合各种常见的应用，可提供经济的操作
- 分析强酸（尤其是 HF）以及使用 O2/Ar 可选气体分析有机溶剂时，需要采用铂截取锥
- 对于需要极低 LODs 的应用和高基质样品，推荐使用带有铜基座的铂截取锥
- 推荐使用带有镍基座的铂截取锥进行有机物分析
建议使用 SC（半导体）铂截取锥来实现半导体和先进材料等高级应用的低背景。 - 使用带不锈钢截取锥基座的镍截取锥和带黄铜截取锥基座的铂尖截取锥，可确保合适的运行温度
- 安捷伦提供便捷的 ICP-MS 接口锥放大镜（部件号 5190-9614），让检查锥孔口变得更简单，以实现可靠的接口锥性能。
工作原理
应用
