ICP-MS 离子透镜

在 7700、7800、7850、7900、8800、8900 ICP-MS 系统中，离子透镜在分离离子与光子、残留中性粒子方面起着重要作用，可确保获得更低的背景信号、更高的灵敏度和高效的干扰去除，实现准确的痕量分析。

安捷伦 ICP 透镜组件采用高传输率的离轴 ICP Omega 透镜，经过精密调谐，可在整个质量数范围内实现理想性能。这种先进的设计增强了离子聚焦能力，并改善了各种样品类型的信号稳定性。

我们提供替换用离子透镜组件和单个 ICP 透镜组件，用于满足日常维护和系统优化需求。配置选件包括：用于常规应用的 ICP x 透镜，用于需要冷等离子体的半导体分析的 ICP s 透镜，以及用于无需冷等离子体的半导体应用的 ICP m 透镜。

安捷伦灵活的 ICP 透镜配置方案允许用户根据具体分析需求定制 ICP-MS 系统，确保获得稳定、高质量的结果。